特許
J-GLOBAL ID:200903087062030708
マルチビーム書込装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山下 穣平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-341168
公開番号(公開出願番号):特開平10-190115
出願日: 1996年12月20日
公開日(公表日): 1998年07月21日
要約:
【要約】【課題】 1つの基準電圧で2つの半導体レーザのAPC制御を行っているので半導体レーザの特性のバラツキによって画像の濃度ムラを生じる。【解決手段】 複数のレーザ光源2,3を備え、各々のレーザ光源を画像信号に応じて駆動し、各々のレーザ光源から発した複数のレーザ光を感光ドラム上に同時に走査することによって、光書き込みを行うマルチビーム書込装置において、各々のレーザ光源から発したレーザ光の一部を検出する光検出器4と、各々のレーザ光源に対応して設けられ、各レーザ光源ごとに予め独立して調整された基準電圧V3,V4を発生する基準電圧発生回路とを備え、各々のレーザ光源ごとに光検出器の出力信号と対応する基準電圧発生回路の基準電圧を比較することによって、各々のレーザ光源の光量を所望の光量に制御する。
請求項(抜粋):
複数のレーザ光源を備え、各々のレーザ光源を画像信号に応じて駆動し、各々のレーザ光源から発した複数のレーザ光を像担持体上に同時に走査することによって、像担持体上に光書き込みを行うマルチビーム書込装置において、前記各々のレーザ光源から発したレーザ光の一部を検出するための検出素子と、各々のレーザ光源に対応して設けられ、各レーザ光源ごとに予め独立して調整された基準電圧を発生する基準電圧発生回路とを備え、各々のレーザ光源ごとに前記検出素子の出力信号と対応する基準電圧発生回路の基準電圧を比較することによって、各々のレーザ光源の光量を所望の光量に制御することを特徴とするマルチビーム書込装置。
IPC (3件):
H01S 3/103
, B41J 2/44
, G02B 26/10
FI (4件):
H01S 3/103
, G02B 26/10 Z
, G02B 26/10 B
, B41J 3/00 D
引用特許:
審査官引用 (2件)
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特開昭62-227667
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特開昭62-227667
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