特許

J-GLOBAL ID：200903087062457485

レ-ザ-イオン化質量分析装置及び計測方法

発明者： 永野 英樹 ,  宮澤 邦夫 ,  近藤 隆明
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 田中 政浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-013371
公開番号（公開出願番号）：特開2000-040489
出願日： 1999年01月21日
公開日（公表日）： 2000年02月08日
要約：

【要約】【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザーイオン化質量分析技術において、コンパクトな計測器でありながら少なくとも2つ以上の測定対象物質を略同時に計測できる装置を提供する。【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有するレーザーイオン化質量分析装置において、パルスレーザー光発振器がレーザー光波長高速変換機構を備えていることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。

請求項（抜粋）：

分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有するレーザーイオン化質量分析装置において、パルスレーザー光発振器がレーザー光波長高速変換機構を備えていることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置

IPC (4件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/40 ,  G01N 27/64

FI (4件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 G ,  H01J 49/40 ,  G01N 27/64 B