特許
J-GLOBAL ID：200903087062599883
半導体試験装置制御プログラムデバッグ方式
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-067987
公開番号（公開出願番号）：特開平6-282462
出願日： 1993年03月26日
公開日（公表日）： 1994年10月07日
要約：
【要約】【目的】実行時間最短化された半導体試験装置制御プログラムをデバッグ時、最短化前の半導体試験装置制御プログラムに復活させるステップを介する。【構成】1テスト毎に独立したプログラムが存在し、全体としては重複命令がある半導体試験装置制御プログラムが1 の記憶媒体Aに存在し、このプログラムを重複命令削除ステップ2 により実行時間を最短化したプログラムにして3 の記憶媒体Bに作成する。4 は半導体試験装置制御プログラムにおいて前記重複命令を有効にして最短化前の状態、つまり記憶媒体Aの状態に復活させる重複命令復活ステップである。これにより、5 には記憶媒体Aと同じ最短化前の状態に復活した半導体試験装置制御プログラムが存在し、デバッグ時、有効に用いる。
請求項（抜粋）：
半導体試験を実行する前に半導体試験装置制御プログラムをシミュレーションし、重複した命令をコメント化してその命令を無効とすることによって半導体試験装置制御プログラムの実行時間を最短化する第1ステップと、前記第1ステップにより実行時間最短化された半導体試験装置制御プログラムを、前記コメントを命令に戻すことによって最短化前の半導体試験装置制御プログラムに復活させる第2ステップとを具備し、最短化後の半導体試験装置制御プログラムについて各テスト毎のデバッグを可能とすることを特徴とする半導体試験装置制御プログラムデバッグ方式。
IPC (4件)：
G06F 11/28 340
, G01R 31/28
, G06F 9/06 440
, H01L 21/66
