特許
J-GLOBAL ID:200903087083743003

フューズ配線を有する電子装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 敬四郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-061012
公開番号(公開出願番号):特開平8-264654
出願日: 1995年03月20日
公開日(公表日): 1996年10月11日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 フューズ配線を有し、かつ、基板表面の平坦化に有効な電子装置を提供する。【構成】 表面もしくは表面上に電子素子が形成された基板19と、基板の上に形成された少なくとも1層の下層配線層30と、下層配線層の上に形成された層間絶縁膜22と、層間絶縁膜の上に形成され、外部からの作用によって切断することができるフューズ配線26を含むフューズ配線層32とを有し下層配線層には、一部領域に、基板と電気的に絶縁され、下層配線層内の配線と同時に形成されたダミーパターン24,25が配置され、かつ、フューズ配線の両側に隣接して、配線及びダミーパターンが配置されていない領域が設けられている。
請求項(抜粋):
表面もしくは表面の上に電子素子が形成された基板と、前記基板の上に形成された少なくとも1層の下層配線層と、前記下層配線層の上に形成された層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜の上に形成され、外部からの作用によって切断することができるフューズ配線を含むフューズ配線層とを有し、前記下層配線層には、一部領域に、前記電子素子と電気的に絶縁され、該下層配線層内の配線と同時に形成されたダミーパターンが配置され、かつ、前記フューズ配線の両側に隣接して、配線及びダミーパターンが配置されていない領域が設けられている電子装置。
IPC (3件):
H01L 21/82 ,  H01L 21/3205 ,  H01L 21/768
FI (5件):
H01L 21/82 F ,  H01L 21/82 W ,  H01L 21/88 S ,  H01L 21/88 Z ,  H01L 21/90 B
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平2-239644
  • 特開平2-239644

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