特許
J-GLOBAL ID：200903087144667844
光切断法によるワーク計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 欣一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-034526
公開番号（公開出願番号）：特開平10-232110
出願日： 1997年02月19日
公開日（公表日）： 1998年09月02日
要約：
【要約】【課題】 光切断法によりワークのエッジ部の位置を計測する方法において、濃淡画像データを用いて計測精度を向上させると共に計測時間を短縮する。【解決手段】 濃淡画像に現われるワークの光切断画像Sの端末部SEの位置を、テンプレートTPを用いてパターンマッチングにより割出す。画像SのY軸方向延在部分に交差するX軸に平行な走査線LXを端末部SEの位置を基準にして複数設定し、各走査線LX上の輝度分布に基づいて画像Sに合致する各走査線LX上の画像点PSを検出し、これら画像点からY軸方向延在部分に近似する画像線Lの方程式を求める。画像Sの端末部SEに交差するY軸に平行な走査線LYを端末部の位置を基準にして複数設定し、各走査線LY上の輝度分布に基づいて画像先端縁に合致する各走査線上の画像境界点PBを検出する。これら境界点PBのうちY軸方向最先端に位置する点Eを通る直線LEと画像線LSとの交点Oを計測基準点として、ワークのエッジ部の位置を計測する。
請求項（抜粋）：
ワークにスリット光を照射するスリット光源と、スリット光の光面に対し光軸が斜交するような位置関係で配置した撮像器とを備える光学式測定装置を用い、ワークに照射されたスリット光が描くワークの光切断像を撮像し、撮像器の画面に現われるワークの光切断画像からワークのエッジ部の位置を計測する方法であって、画像データとして濃淡画像データを用いるものにおいて、スリット光の光面に直交し、且つ、撮像器の光軸を含む面に平行な画面上の座標軸をX軸、X軸に直交する画面上の座標軸をY軸として、Y軸方向に延在する光切断画像のワークのエッジ部に対応するY軸方向先端の端末部を含む所定範囲の画像形状を表わすテンプレートを用いてパターンマッチングを行ない、光切断画像の端末部の位置を割出す工程と、割出された光切断画像の端末部の位置を基準にして、Y軸方向に延在する光切断画像の部分が存在するY軸方向の所定の計測範囲を設定し、該計測範囲にY軸方向に所定ピッチでX軸方向の走査線を複数設定し、各走査線上の輝度分布に基づいて光切断画像に合致する各走査線上の画像点の座標を検出し、これら画像点の座標から光切断画像のY軸方向延在部分に近似する画像線の方程式を求める工程と、割出された光切断画像の端末部の位置を基準にして、該端末部に交差するY軸方向の走査線をX軸方向に所定ピッチで複数設定し、各走査線上の輝度分布に基づいて光切断画像の端末部のY軸方向先端縁に合致する各走査線上の画像境界点の座標を検出し、これら画像境界点のうちY軸方向最先端に位置する画像境界点を最先端点として抽出する工程と、最先端点を通るX軸に平行又は前記画像線に直角な直線と該画像線との交点の座標を求める工程とを備え、前記交点を計測基準点としてワークのエッジ部の位置を計測する、ことを特徴とする光切断法によるワーク計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/00 H
, G06F 15/62 400
