特許

J-GLOBAL ID：200903087169951431

X線装置

発明者： 植木 広則 ,  植田 健 ,  池田 重之
出願人/特許権者： 株式会社日立メディコ
代理人 (1件)： 秋田 収喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-107191
公開番号（公開出願番号）：特開平11-299765
出願日： 1998年04月17日
公開日（公表日）： 1999年11月02日
要約：

【要約】【課題】 どのような被写体条件においても、注目物質のコントラストノイズ比を向上することが可能なX線装置を提供すること。【解決手段】 X線を発生し被検体に照射するX線照射手段と、前記被検体をX線で撮像するX線撮像手段と、該X線像を表示する表示手段を有し、前記被検体内に該被検体の組成物質と異なる注目物質が存在する部位のX線像を撮像するX線装置において、撮像中における前記被検体の最大被曝線量を予め設定する被曝線量設定手段と、該注目物質の特徴量が既知である場合に該最大被曝線量内で前記注目物質とその他の部分とのコントラストノイズ比を最適にするX線条件をX線照射に先立って計算するX線条件計算手段と、X線条件を該最適X線条件に基づいて制御するX線条件制御手段とを具備する。

請求項（抜粋）：

X線を発生し被検体に照射するX線照射手段と、前記被検体をX線で撮像するX線撮像手段と、該X線像を表示する表示手段を有し、前記被検体内に該被検体の組成物質と異なる注目物質が存在する部位のX線像を撮像するX線装置において、撮像中における前記被検体の最大被曝線量を予め設定する被曝線量設定手段と、該注目物質の特徴量が既知である場合に該最大被曝線量内で前記注目物質とその他の部分とのコントラストノイズ比を最適にするX線条件をX線照射に先立って計算するX線条件計算手段と、X線条件を該最適X線条件に基づいて制御するX線条件制御手段とを具備することを特徴とするX線装置。

IPC (2件)：

A61B 6/00 320 ,  A61B 6/00

FI (2件)：

A61B 6/00 320 M ,  A61B 6/00 350 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• X線診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-205201   出願人：株式会社東芝
• 特開昭62-015800
  
• 特開昭62-015800