特許

J-GLOBAL ID：200903087176502774

分析装置

発明者： 田村 知明 ,  阿久津 昌樹
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-276924
公開番号（公開出願番号）：特開2003-083982
出願日： 2001年09月12日
公開日（公表日）： 2003年03月19日
要約：

【要約】【課題】検量線が不良であるか否かを容易に判断することができると共に、該検量線が不良であった場合に速やかな対処を行うことができる分析装置を提供することである。【解決手段】検量線の作成若しくは補正のために多点の既知濃度試料を分析する分析装置に於いて、アナライザ部5にて、n個の既知濃度試料のうち、少なくともm(1≦m≦n-1)個の既知濃度試料の測定が行われ、データプロセッサ部16にてその測定結果が用いられて検量線の作成若しくは補正が行われる。そして、n-m個の既知濃度試料の測定結果が用いられて、上記作成若しくは補正した検量線の検証が、データプロセッサ部16にて行われる。

請求項（抜粋）：

検量線の作成若しくは補正のために多点の既知濃度試料を分析する分析装置に於いて、検量線使用に先立って、複数の連続して分析される既知濃度試料の既知濃度値と測定値の組合わせの一部を検量線作成に用い、検量線作成に使用しなかった既知濃度値と測定値の組合わせを上記作成若しくは補正した検量線の検証に用いることを特徴とする分析装置。

Fターム (8件)：

2G058CB15 ,  2G058CB17 ,  2G058CD04 ,  2G058EA02 ,  2G058GA03 ,  2G058GC05 ,  2G058GD02 ,  2G058GD06