静電荷像現像方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小松秀岳 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-068374
公開番号（公開出願番号）：特開2001-255691
出願日： 2000年03月13日
公開日（公表日）： 2001年09月21日
要約：

【要約】【課題】一成分現像において、地肌汚れの問題やトナー飛散の問題がなく、安定した現像を行う方法を提供する。【解決手段】薄層化されたトナーの電荷量Q(fc)と粒径D(μm)から表されるQ/D分布の、ピークとなるQ/Dをp-Q/Dとし、Q/Dが0〜p-Q/Dの範囲にある粒子の個数割合をa%、p-Q/D〜2×p-Q/Dの範囲にある粒子の個数割合をb%、それよりも高いQ/D範囲にある粒子の個数割合をc%、逆帯電粒子の個数割合をd%とした場合、下記式?@グループを満たし、または、Q/Dがp-Q/D〜1.5×p-Q/Dの範囲にある粒子の個数割合をb’%、それより高いQ/D範囲にある粒子の個数割合をc’%とした場合、下記式?Aグループを満たす。?@0.2<|p-Q/D|<0.6b/a>0.9c<7d<15?A0.5<|p-Q/D|<0.80.6<b’/a≦0.9c’<0.5d<15

請求項（抜粋）：

少なくとも結着樹脂、着色剤、帯電制御剤を含有し、表面を外添加剤で被覆された非磁性一成分トナーを、トナー担持体表面に供給し、トナー層形成部材との間を通過させ、トナー担持体表面で電荷の付与とともに薄層化する工程を有する現像方法において、薄層化されたトナーの電荷量Q(fc)と粒径D(μm)から表されるQ/D分布の、ピークとなるQ/Dをp-Q/Dとし、Q/Dが0〜p-Q/Dの範囲にある粒子の個数割合をa%、p-Q/D〜2×p-Q/Dの範囲にある粒子の個数割合をb%、それよりも高いQ/D範囲にある粒子の個数割合をc%、逆帯電粒子の個数割合をd%とした場合、下記式?@グループを満たし、または、Q/Dがp-Q/D〜1.5×p-Q/Dの範囲にある粒子の個数割合をb’%、それより高いQ/D範囲にある粒子の個数割合をc’%とした場合、下記式?Aグループを満たすことを特徴とする静電荷像現像方法。式?@グループ0.2<|p-Q/D|<0.6b/a>0.9c<7d<15式?Aグループ0.5<|p-Q/D|<0.80.6<b’/a≦0.9c’<0.5d<15

IPC (2件)：

G03G 9/08 371 , G03G 9/087

FI (2件)：

G03G 9/08 371 , G03G 9/08 333

Fターム (7件)：

2H005AA01 , 2H005AA08 , 2H005CA07 , 2H005CB07 , 2H005CB13 , 2H005EA01 , 2H005EA10

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