特許

J-GLOBAL ID：200903087181991015

基板検査装置における検査結果出力方法

発明者： 田中 光一
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-202365
公開番号（公開出願番号）：特開平5-026814
出願日： 1991年07月16日
公開日（公表日）： 1993年02月02日
要約：

【要約】【目的】はんだ付け不良などの基板上の不良部位を正確かつ迅速に確認することができる検査結果出力方法を提供する。【構成】表示部の表示画面7には、画像表示部cと不良部品情報表示部bとが設けられている。画像表示部cには、基板外形および部品外形の各画像が表示されると共に、基板領域を複数の区域に区分するための縦横格子状の区分線34,35がグラフィック表示される。不良部品情報表示部bには各不良部品につきその名称または番号40と、その部品が属する前記区域の番地41とが対で文字により表される。

請求項（抜粋）：

検査結果を表示または印字する面に、基板の外形を複数の区域に区分するための格子状の区分線を表すと共に、前記基板上の検査対象を特定する情報およびその検査対象が位置する区域を特定する情報をあわせて表すことを特徴とする基板検査装置における検査結果出力方法。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G06F 15/62 405 ,  G09G 5/00 ,  H05K 3/34

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-044054
  
• 特開平2-076080
  
• 特開昭58-135941