特許
J-GLOBAL ID：200903087188058764
光学式傾斜計測方法、及び光学式傾斜センサ
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (7件)：
杉村 興作
, 高見 和明
, 徳永 博
, 藤谷 史朗
, 来間 清志
, 冨田 和幸
, 阿相 順一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-142362
公開番号（公開出願番号）：特開2005-326172
出願日： 2004年05月12日
公開日（公表日）： 2005年11月24日
要約：
【課題】模型飛行機などの物体の地上に対する絶対的な傾斜度合いを廉価な装置を用いて検出する。【解決手段】所定の物体に対して光学センサを取り付け、前記光学センサを用いて、前記物体に対する太陽の位置を幾何学的に算出し、第1のパラメータベクトルとする。次いで、前記物体に対して参照軸を設け、第2のパラメータベクトルとする。次いで、地上に対する前記太陽の位置を第3のパラメータベクトルとするとともに、地上に対する前記参照軸の位置を第4のパラメータベクトルとする。次いで、前記第1のパラメータベクトル及び前記第3のパラメータベクトルの相関、並びに前記第2のパラメータベクトル及び前記第4のパラメータベクトルの相関を導出し、前記第1のパラメータベクトルから前記第4のパラメータベクトル、及び前記相関に基づいて、前記物体の地上に対する絶対的な傾斜度合いを導出する。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
所定の物体に対して光学センサを取り付ける工程と、
前記光学センサを用いて、前記物体に対する太陽の位置を幾何学的に算出し、第1のパラメータベクトルとする工程と、
前記物体に対して参照軸を設け、第2のパラメータベクトルとする工程と、
地上に対する前記太陽の位置を第3のパラメータベクトルとする工程と、
地上に対する前記参照軸の位置を第4のパラメータベクトルとする工程と、
前記第1のパラメータベクトル及び前記第3のパラメータベクトルの相関、並びに前記第2のパラメータベクトル及び前記第4のパラメータベクトルの相関を導出する工程と、
前記第1のパラメータベクトルから前記第4のパラメータベクトル、及び前記相関に基づいて、前記物体の地上に対する絶対的な傾斜度合いを導出する工程と、
を具えることを特徴とする、光学式傾斜計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
2F065AA31
, 2F065BB15
, 2F065CC00
, 2F065FF23
, 2F065GG10
, 2F065HH11
, 2F065JJ16
, 2F065LL04
, 2F065LL28
, 2F065QQ41
, 2F065UU02
, 2F065UU05
