特許
J-GLOBAL ID:200903087217132464

2次元電圧検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-300942
公開番号(公開出願番号):特開平7-244086
出願日: 1994年12月05日
公開日(公表日): 1995年09月19日
要約:
【要約】【目的】 空間分解能が高い2次元電圧検出装置を提供する。【構成】 本発明の2次元電圧検出装置は、電界によって屈折率が変化する電気光学材料を有するEOプローブと、光源と、光検出器と、光源からの光をEOプローブに2次元的に与えるとともに、EOプローブからの反射光を、被測定物の所定の部分の電圧に応じてその2次元的な強度が変化するようにして光検出器に導くための光学系とを含んで構成された光検出手段とを備え、EOプローブは、光源からの光を上記電気光学材料に2次元的に導く光ファイバプレートを含んで構成され、電気光学材料は、光ファイバプレートの面上、被測定物の側に配置されている。
請求項(抜粋):
電界によって屈折率が変化する電気光学材料を有するEOプローブと、光源と、光検出器と、前記光源からの光を前記EOプローブに2次元的に与えるとともに、前記EOプローブからの反射光を、被測定物の2次元的電圧分布に応じてその2次元的な光強度が変化するようにして前記光検出器に導くための光学系とを含んで構成された光検出手段とを備え、前記EOプローブは、前記光源からの光を前記電気光学材料に2次元的に導く光ファイバプレートを含んで構成され、前記電気光学材料は、前記光ファイバプレートの面上、前記被測定物の側に配置されている2次元電圧検出装置。
IPC (3件):
G01R 15/24 ,  G01R 19/00 ,  G01R 31/302
FI (2件):
G01R 15/07 C ,  G01R 31/28 L
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭64-009370
  • 2次元像放射線検出器
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-028260   出願人:三菱重工業株式会社

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