特許

J-GLOBAL ID：200903087263767466

磁気抵抗ヘッドの検査方法及び装置

発明者： 加賀谷 正規 ,  唐鎌 義彬 ,  福元 剛之
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立コンピュータ機器株式会社
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-279148
公開番号（公開出願番号）：特開平10-124828
出願日： 1996年10月22日
公開日（公表日）： 1998年05月15日
要約：

【要約】【課題】微少な、例えば数%の微少出力変動レベルのバルクハウゼンノイズの検出は可能であったが、例えば30〜50%の大出力変動のバルクハウゼンノイズの検出が再現性よく検出できないという問題があった。【解決手段】センス電流によってバイアス磁界を発生させる磁気抵抗ヘッド(以下MRヘッドと称する)であって、ストレスとしての外部磁場を該MRヘッドとは別の外部磁場発生手段により、スライダ-浮上面側からMRストライプの磁化困難軸方向(以下この方向をP方向とする)へ、パルス磁場として印加し、その後該MRヘッドの出力電圧波形を検査することにより達成することができる。

請求項（抜粋）：

センス電流によってバイアス磁界を発生させる磁気抵抗ヘッド(以下MRヘッドと称する)において、ストレスとしての外部磁場を該MRヘッドとは別の外部磁場発生手段により、スライダ-浮上面側からMRストライプの磁化困難軸方向(以下この方向をP方向とする)へ、パルス磁場として印加し、その後該MRヘッドの出力電圧波形を検査することを特徴とするMRヘッドの検査方法。

IPC (2件)：

G11B 5/455 ,  G11B 5/39

FI (2件)：

G11B 5/455 C ,  G11B 5/39

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平1-201816