特許

J-GLOBAL ID：200903087265306750

電気二重層コンデンサの劣化検出方法及び装置

発明者： 二宮 保 ,  木村 好克 ,  清水 英夫
出願人/特許権者： エルナー株式会社
代理人 (1件)： 古澤 俊明 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-263454
公開番号（公開出願番号）：特開2001-085283
出願日： 1999年09月17日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：

【要約】【課題】 電気二重層コンデンサ18の劣化状態を、回路から外すことがない活線状態で判定できるとともに、劣化状態を非接触で判定できる劣化検出方法及び装置を提供することである。【解決手段】 電気二重層コンデンサ18を回路に接続した活線状態で、かつ、電圧を印加している状態で温度上昇を測定する。この温度上昇を測定することで、電気二重層コンデンサ18の劣化の目安となる内部抵抗値Rの上昇を読み取る。具体的には、電気二重層コンデンサ18を回路に接続した状態で、充電前の電気二重層コンデンサ18の温度を測定し、これを記録しておき、ついで、充放電動作状態での温度を測定して、これらの温度差を見る。このようにして使用中の電気二重層コンデンサ18の内部抵抗値変化が読み取れる。これらの温度測定は、非接触にて高感度放射温度計を用いて行われる。電気二重層コンデンサ18の多数点を計測し、その平均値を求めることにより、より正確な判断ができる。

請求項（抜粋）：

電気二重層コンデンサ18の表面温度を測定し、この測定温度の温度上昇により電気二重層コンデンサ18の劣化を判定するようにしたことを特徴とする電気二重層コンデンサの劣化検出方法。

IPC (4件)：

H01G 13/00 361 ,  H01G 13/00 371 ,  G01N 25/72 ,  H01G 9/155

FI (5件)：

H01G 13/00 361 Z ,  H01G 13/00 371 C ,  G01N 25/72 J ,  H01G 9/00 301 K ,  H01G 9/00 301 Z

Fターム (35件)：

2G040AA05 ,  2G040AB12 ,  2G040BA14 ,  2G040BA18 ,  2G040BA26 ,  2G040CA02 ,  2G040CA03 ,  2G040CA12 ,  2G040CA23 ,  2G040DA05 ,  2G040EA02 ,  2G040EB02 ,  2G040EC03 ,  2G040GB01 ,  2G040HA08 ,  2G040HA10 ,  2G040HA16 ,  5E082AB04 ,  5E082AB09 ,  5E082BC40 ,  5E082EE15 ,  5E082EE23 ,  5E082EE27 ,  5E082EE28 ,  5E082EE30 ,  5E082GG05 ,  5E082HH03 ,  5E082HH07 ,  5E082HH14 ,  5E082KK04 ,  5E082MM07 ,  5E082MM24 ,  5E082MM31 ,  5E082MM40 ,  5E082PP06

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-114211
  
• コンデンサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-171632   出願人：マルコン電子株式会社
• アルミ電解コンデンサ用引出しリード線の製造方法およびその製造装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-062358   出願人：松下電器産業株式会社