特許

J-GLOBAL ID：200903087309864488

遅延時間測定方法及び遅延時間測定用パルス発生装置

発明者： 馬場 忠彦
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-010920
公開番号（公開出願番号）：特開平9-203772
出願日： 1996年01月25日
公開日（公表日）： 1997年08月05日
要約：

【要約】【課題】 COMS構造のICを用いた回路の遅延時間を実動状態に近い温度条件で正確に測定する。【解決手段】 COMS構造のICによって構成される被測定回路10の入力端子と出力端子を接続してループ発振回路を構成し、このループ発振回路にパルスを与えてループ発振状態とし、このループ発振周期を測定して被測定回路の遅延時間を測定する遅延時間測定方法において、ループ発振周期内に被測定回路の実動時に取り扱う周波数と同等の周波数を持つ補間パルスを被測定回路に与え、被測定回路を実動状態に近い温度条件で動作させて遅延時間を測定する。

請求項（抜粋）：

遅延時間を測定すべき被測定回路の出力端子と入力端子との間を接続してループ発振回路を構成し、このループ発振回路の発振周期を測定して、上記被測定回路の遅延時間を測定する遅延時間測定方法において、上記ループ発振回路の発振周期内に上記被測定回路の実動時に通過する信号の周波数に近い周波数の信号を挿入し、被測定回路を実動状態に近い状態で動作させて遅延時間を測定することを特徴とする遅延時間測定方法。