特許
J-GLOBAL ID：200903087311962713
発光分光分析方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-068464
公開番号（公開出願番号）：特開平5-273128
出願日： 1992年03月26日
公開日（公表日）： 1993年10月22日
要約：
【要約】[目的] 発光分光分析を用いて試料中の各成分元素の存在形態別の定量分析を可能にすることを目的とする。[構成] 試料を多数回において励起により発光させ、その発光毎に試料に含まれる成分元素と非成分元素それぞれの輝線光強度を検出し、検出される輝線光強度データを記憶し、その記憶データに基づいて成分元素と非成分元素とが設定レベル以上含まれる発光を特定し、その特定した発光による試料領域に成分元素と非成分元素との化合物が存在すると判断して発光分光分析により成分の試料中での存在形態別の定量分析を行う。
請求項（抜粋）：
試料を多数回において励起により発光させるステップ、前記発光毎に、前記試料の成分元素と非成分元素それぞれの輝線光強度を検出するステップ、前記検出される輝線光強度データを記憶するステップ、前記記憶データに基づいて、前記成分元素と非成分元素とが設定レベル以上含まれる発光を特定するステップ、および、前記の特定した発光による試料領域に前記成分元素と非成分元素との化合物が存在すると判断するステップ、よりなる発光分光分析方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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