特許
J-GLOBAL ID：200903087329512227
非接触測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-348705
公開番号（公開出願番号）：特開平7-190718
出願日： 1993年12月27日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 優れたエッジフォーカス制御が可能な非接触測定装置を提供する。【構成】 ワーク1を撮像するカメラ2と、このカメラ2のz方向位置を検出する位置検出器3と、カメラ2の出力画像を処理してフォーカス制御を行う制御装置4とを有し、フォーカス制御装置4は、カメラ2の出力画像データを記憶する画像メモリ42と、この画像メモリ42の画像データから所定走査領域内のコントラスト値を求めるコントラスト演算回路43と、走査領域内の画像データのノイズが少ない方からの探索により所定しきい値を越えた最初の位置をエッジ位置として検出するエッジ検出回路45と、前記エッジ位置での前記コントラスト値がピークを示すフォーカス方向位置を合焦位置として検出するピーク位置検出回路46とを備えた。
請求項（抜粋）：
ワークを撮像するビデオカメラと、このビデオカメラのフォーカス方向位置を検出する位置検出手段と、前記ビデオカメラの出力画像データを処理してフォーカス制御を行うフォーカス制御手段とを有する非接触測定装置において、前記フォーカス制御手段は、前記ビデオカメラの出力画像データを記憶する画像メモリと、この画像メモリの画像データから所定走査領域内のコントラスト値を求めるコントラスト演算手段と、前記走査領域内の画像データのノイズが少ない方からの探索により所定しきい値を越えた最初の位置をエッジ位置として検出するエッジ検出手段と、前記エッジ位置での前記コントラスト値がピークを示すフォーカス方向位置を合焦位置として検出するピーク位置検出手段とを備えたことを特徴とする非接触測定装置。
IPC (5件)：
G01B 11/00
, G06T 7/00
, G06T 1/00
, H04N 5/232
, H04N 7/18
G06F 15/62 415
, G06F 15/64 320 H
