特許
J-GLOBAL ID:200903087378358608

プリント基板の検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山本 誠
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-074088
公開番号(公開出願番号):特開平5-302821
出願日: 1991年03月13日
公開日(公表日): 1993年11月16日
要約:
【要約】〔目的〕プリント基板の検査において、検査労力の省力化、検査精度の向上、および補修作業の容易化を可能にすることを目的とする。〔構成〕適正にパーツが装着されたプリント基板の画像を基準基板として登録する第1のメモリと、検査対象となるプリント基板の画像を取り込む入力装置と、この入力装置で取り込まれた画像を前処理する前処理回路と、この前処理回路で処理された画像を保持する第2のメモリと、第1、第2のメモリの画像を比較し両者の一致度を求める比較回路と、この比較回路の出力に基づいて検査結果を表示する表示装置とを備えていることを特徴とする。
請求項(抜粋):
適正にパーツが装着されたプリント基板の画像を基準基板として登録する第1のメモリと検査対象となるプリント基板の画像を取込む入力装置とこの入力装置で取込まれた画像を前処理する前処理回路とこの前処理回路で処理された画像を保持する第2のメモリと、第1、第2のメモリの画像を比較し両者の一致度を求める比較回路と、この比較回路の出力に基づいて検査結果を表示する表示装置とを備えているプリント基板の検査装置。
IPC (3件):
G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H04N 7/18

前のページに戻る