特許
J-GLOBAL ID：200903087393314250
外観状態検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-359025
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201338
出願日： 1992年12月25日
公開日（公表日）： 1994年07月19日
要約：
【要約】【目的】 一般部品の外観検査方法に係り、特に、各種条件にフレキシブルに対応する電子部品の基板実装後のはんだ付け状態の検査方法に関する。【構成】 本発明は上記の問題を解決するために、被検査物品のを発光手段により照射し、撮像カメラ等のセンサにより、撮像し、電気信号に変換する。更に、この電気信号は画像処理手段により、形状情報コ-ドデ-タ(すなわち、立体形状のデータ)のパターンと濃淡階調分布デ-タのパターンが作成される。このそれぞれのパターンデ-タをもとに、被検査物品の外観状態を正確に把握し、検査、判断する学習認識機能をもったニュ-ロコンピュ-タの手段により構成される。
請求項（抜粋）：
検査対象品を多段多照明装置により照射し、それぞれの画像を撮像手段にて撮像し、各段より得られた濃淡階調分布の画像配列デ-タから構成される形状情報コ-ドデ-タのパターンと濃淡階調分布デ-タのパターンとを、入力層、中間層、出力層により学習形階層式パ-セプトロンが形成されるニュ-ロコンピュ-タ手段に入力し、該手段の出力層に、前記検査対象品の外観の状態を出力し、認識判定検査することを特徴とする外観状態検査方法
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H01L 21/66
, H05K 3/34
