特許

J-GLOBAL ID：200903087396825108

プログラムテスト仕様書生成装置

発明者： 岡山 敬
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-085440
公開番号（公開出願番号）：特開2001-273169
出願日： 2000年03月24日
公開日（公表日）： 2001年10月05日
要約：

【要約】【課題】 重要度に応じたテスト項目の自動的な抽出を可能とするプログラムテスト仕様書生成装置を提供する。【解決手段】 プログラム中から変数を抽出するプログラム解析部と、前記プログラム解析部によって抽出された変数を表示する表示部と、変数を特定する情報を入力するための入力部と、前記入力部から入力された情報によって特定された変数を含む記述を前記プログラムから抽出するテスト項目抽出部と、前記テスト項目抽出部によって抽出された記述をテスト項目とするプログラムテスト仕様書を生成する仕様書生成部とを具備するプログラムテスト仕様書生成装置を構成する。

請求項（抜粋）：

プログラム中から変数を抽出するプログラム解析部と、前記プログラム解析部によって抽出された変数を表示する表示部と、変数を特定する情報を入力するための入力部と、前記入力部から入力された情報によって特定された変数を含む記述を前記プログラムから抽出するテスト項目抽出部と、前記テスト項目抽出部によって抽出された記述をテスト項目とするプログラムテスト仕様書を生成する仕様書生成部とを具備することを特徴とするプログラムテスト仕様書生成装置。

IPC (2件)：

G06F 11/28 340 ,  G06F 9/06 540

FI (2件)：

G06F 11/28 340 A ,  G06F 9/06 540 U

Fターム (7件)：

5B042GA02 ,  5B042HH08 ,  5B042HH19 ,  5B042HH42 ,  5B076AC07 ,  5B076EC02 ,  5B076EC05