特許

J-GLOBAL ID：200903087401542900

穀粒乾燥機

発明者： 弓立 正史 ,  近本 正幸 ,  森本 浩人 ,  木本 斉 ,  二宮 伸治
出願人/特許権者： 井関農機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-142352
公開番号（公開出願番号）：特開2008-298324
出願日： 2007年05月29日
公開日（公表日）： 2008年12月11日
要約：

【課題】 穀粒乾燥機内に積み重ねて張り込んだ穀粒層それぞれの穀粒の水分を測定し、張込穀粒のバラツキ具合からバラツキを解消させるための乾燥制御を行なうことを課題とする。【解決手段】 張込穀粒を循環手段で循環中に張込穀粒量に応じた測定回数分前記水分測定装置(9)で代表水分値(m)を測定すると共に該代表水分値の平均水分値(n)を演算し、前記代表水分値(m)を結ぶ折れ線グラフと代表水分値の平均水分値(n)を示す直線グラフを作成し、前記折れ線グラフと直線グラフとの間にできる領域(g)の値を演算し、該領域(g)の内最大の領域の値の絶対値(X)から前記平均水分値と各代表水分値との差の値が設定範囲以下になるために必要な張込穀粒の水分差解消循環時間(H)を演算し、該水分差解消循環時間(H)より乾燥速度(Z)を演算して乾燥制御する構成とした。【選択図】 図11

請求項（抜粋）：

貯留室(10)から乾燥室(11)を経て再度貯留室(10)に張込穀粒を循環させる循環手段と、張込穀粒量を設定できる張込穀粒量設定手段(20)と、穀粒を乾燥する乾燥手段(4)と、張込穀粒から一回の水分測定で複数のサンプル穀粒を取り込んで水分測定を行ない代表水分値を測定する水分測定装置(9)と、前記循環手段や乾燥手段(4)や水分測定装置(9)を制御する制御部(41)とを設け、 張込穀粒を循環手段で循環中に前記水分測定装置(9)で張込穀粒量に応じた測定回数分の代表水分値(m)を測定すると共に該代表水分値の平均水分値(n)を演算し、 前記代表水分値(m)を結ぶ折れ線(f)と代表水分値の平均水分値(n)を示す直線(e)を表示するグラフを作成し、前記折れ線(f)と直線(e)との間にできる領域(g)の面積を比較し、該領域(g)の内最も広い面積の領域を示す値(X)から張込穀粒のバラツキ解消循環時間(H)を演算し、該バラツキ解消循環時間(H)より乾燥速度(Z)を演算して乾燥制御する穀粒乾燥機。

IPC (3件)：

F26B 17/14 ,  F26B 25/22 ,  F26B 25/00

FI (3件)：

F26B17/14 B ,  F26B25/22 B ,  F26B25/00 E

Fターム (6件)：

3L113AB03 ,  3L113AC67 ,  3L113BA02 ,  3L113CA02 ,  3L113CB35 ,  3L113DA11

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 穀粒乾燥機の乾燥速度制御装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-186531   出願人：井関農機株式会社