特許

J-GLOBAL ID：200903087424450875

信頼性保証回路

発明者： 宍戸 勝彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 宮井 暎夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-360570
公開番号（公開出願番号）：特開2001-175541
出願日： 1999年12月20日
公開日（公表日）： 2001年06月29日
要約：

【要約】【課題】経時劣化する複数の回路の使用頻度を均一化することで、耐用限度に近い使用回数を設定することができる信頼性保証回路を提供する。【解決手段】使用頻度に伴い経時劣化する回路要素を持つ半導体回路10の複数の部分回路14にアクセスした回数をカウントし、アクセス先をカウント数の小さい部分回路14に変更する選択信号を出力する判定回路13と、この判定回路13の選択信号16を入力してカンウト数の小さい部分回路14を選択する選択回路12とを備えている。

請求項（抜粋）：

使用頻度に伴い経時劣化する回路要素を持つ半導体回路の複数の部分回路にアクセスした回数をカウントし、アクセス先をカウント数の小さい前記部分回路に変更する選択信号を出力する判定回路と、この判定回路の前記選択信号を入力してカンウト数の小さい前記部分回路を選択する選択回路とを備えた信頼性保証回路。

IPC (3件)：

G06F 12/16 310 ,  G11C 16/02 ,  G11C 29/00 601

FI (4件)：

G06F 12/16 310 A ,  G11C 29/00 601 C ,  G11C 17/00 601 C ,  G11C 17/00 601 B

Fターム (8件)：

5B018GA04 ,  5B018HA23 ,  5B018NA06 ,  5B018QA15 ,  5B025AE01 ,  5B025AE08 ,  5L106AA10 ,  5L106CC37