特許

J-GLOBAL ID：200903087447875229

オンチップモジュ-ルおよびオンチップモジュ-ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法

発明者： チェン - ピン ワン
出願人/特許権者： テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-375453
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214220
出願日： 1999年12月28日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：

【要約】【課題】 集積回路の成分モジュールと、それらの成分モジュール間の相互接続と、の動作をテストする走査テストシステムを提供する。【解決手段】 この走査テストシステムを構成する成分モジュールは、その入力または出力が集積回路10の境界上になければ、入力走査セル76と出力走査セル102とを有する。出力走査セル102は、入力テストモード、または出力テストモードを指示するモード選択信号122を受ける。この走査テストシステムは2つのステップにより全集積回路10の動作の完全性を検査する。第1ステップでは、1つおきの成分モジュールのモード選択信号を出力テストモードへセットし、それらの間の成分モジュールのモード選択信号を、入力テストモードへセットする。第2ステップでは、これらのセッティングを逆にする。全てのモード選択信号を出力テストモードへセットした時、集積回路10は通常の動作を行う。

請求項（抜粋）：

オンチップモジュールおよびそれらのオンチップモジュール間の相互接続をテストするシステムにおいて、第1オンチップモジュールの出力信号を捕捉する動作を行いうる出力走査セルであって、該捕捉された出力信号が、前記第1オンチップモジュールの適正な動作と、前記第1オンチップモジュールの出力から前記出力走査セルまでの信号経路と、を検査するために用いられる、前記出力走査セルと、テスト信号を、前記出力走査セルを経て、第2オンチップモジュールの入力へ送る動作を行いうる入力走査セルであって、該送られたテスト信号が、前記第2オンチップモジュールの適正な動作と、前記出力走査セルから前記第2オンチップモジュールの入力までの信号経路と、を検査するために用いられ、それにより前記第1オンチップモジュールの出力と、前記第2オンチップモジュールの入力と、の間の相互接続信号経路の適正な動作を検査する、前記入力走査セルと、前記出力走査セルの動作モードを選択するモード選択信号であって、該モード選択信号が入力テストモードまたは出力テストモードである、前記モード選択信号と、を含む、前記システム。