特許

J-GLOBAL ID：200903087460578322

X線診断装置および診断方法

発明者： 橋本 信彦 ,  小泉 洋人
出願人/特許権者： 株式会社日立エンジニアリングサービス
代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-280038
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118736
出願日： 1997年10月14日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：

【要約】【課題】対象とする機器あるいは容器の大きさ、形状、X線透過方向の厚み、構造の精密さ等に対応して撮影を可能としたインテグレードされたX線診断装置および方法を提供する。【解決手段】X線発生の焦点の異なる二以上のX線発生装置を切換え可能に設置した。また、X線検出媒体の異なる二以上のX線検出装置を設けた。

請求項（抜粋）：

機器あるいは容器等にX線を照射して、その内部状態を測定するX線発生装置およびX線検出装置よりなるX線診断装置において、X線発生の焦点の異なる二以上のX線発生装置を切換え可能に設置したことを特徴とするX線診断装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/00 300

FI (2件)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/00 300 B