特許

J-GLOBAL ID：200903087467162776

光ディスク・ドライブの一時的欠陥を含むセクタを再利用できるようにする方法および予備セクタの過剰な使用を確認する方法

発明者： ジョン・エドワード・クラコフスキ ,  ロドニー・ジェローム・ミーンズ
出願人/特許権者： インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
代理人 (1件)： 頓宮 孝一 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-188005
公開番号（公開出願番号）：特開平5-210845
出願日： 1992年07月15日
公開日（公表日）： 1993年08月20日
要約：

【要約】【目的】 光記憶装置において、塵等による汚染による予備セクタの過剰消費を検出し、ディスク清掃後の良好セクタを回復すること。【構成】 光ディスク上の欠陥セクタが、初期フォーマット中に識別され、このようなセクタは、後日に再利用できる可能性のあるセクタとして除去される。ディスクの使用中に欠陥があると識別されたセクタは、初期フォーマット時に欠陥が発見されたセクタとは別に、2次欠陥リスト(SDL)にリストされる。清掃作業の後にSDL内のセクタを表面分析して、現在良好であるかどうか判定する。さらに、初期に欠陥が発見されたセクタに隣接するSDL内の欠陥セクタが、再利用可能として除去できる。

請求項（抜粋）：

マイクロプロセッサと作業用メモリとを有するコントローラを含む光ディスク・ドライブ装置において、光ディスク欠陥のうちで、ディスク自体の内部の欠陥に起因する可能性が最も高い欠陥を、塵またはその類似物によって引き起こされる一時的欠陥から区別して、一時的欠陥を含むセクタを再利用できるようにする方法であって、前記ドライブ装置への初期ディスク装入時に、前記ディスク上のすべてのユーザ域セクタをフォーマットし、欠陥が発見されたすべてのセクタのアドレスを、前記ディスク上に置かれた1次欠陥リスト(PDL)に記憶するステップと、前記ディスクのその後の使用中に欠陥が発見されたすべてのセクタのアドレスを、前記ディスク上に置かれた2次欠陥リスト(SDL)に記憶するステップと、予備セクタ消費量の閾値を設定するステップと、セクタ使用量を前記閾値と比較し、前記閾値を超える場合、ディスク清掃作業を要求するステップと、清掃済みのディスクを前記ドライブに再挿入する際に、前記SDLを検査し、そこに含まれるすべてのセクタを再フォーマットして、それらが現在は再使用可能であるか否か判定するステップとを含む前記方法。

IPC (3件)：

G11B 7/00 ,  G11B 20/10 ,  G11B 20/12