特許
J-GLOBAL ID：200903087490179996
雑音測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 守弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-152530
公開番号（公開出願番号）：特開平5-340981
出願日： 1992年06月12日
公開日（公表日）： 1993年12月24日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、雑音測定装置に関し、測定距離、被測定装置の位置などから直接波および大地面で反射した反射波を合成した電界強度が強くなるアンテナの昇降範囲を求め、この狭い昇降範囲についてのみアンテナを上下して電界強度を測定し、迅速に雑音電波の測定を可能にすることを目的とする。【構成】 被測定装置を載せ、所定高さの位置で回転するターンテーブル4と、このターンテーブル4に載せた被測定装置から放射された電波の電界強度を測定および上下に昇降するアンテナ8とを備え、ターンテーブル4に載せた被測定装置から放射された直接波と大地面で反射した反射波とから最大の強度となる高さの近傍のみをアンテナ8を昇降させて当該被測定装置から放射された電波の電界強度を測定するように構成する。
請求項（抜粋）：
装置から放射された雑音電波を測定する雑音測定装置において、被測定装置を載せ、所定高さの位置で回転するターンテーブル(4)と、このターンテーブル(4)に載せた被測定装置から放射された電波の電界強度を測定および上下に昇降するアンテナ(8)とを備え、上記ターンテーブル(4)に載せた被測定装置から放射された直接波と大地面で反射した反射波とから最大の強度となる高さの近傍のみを上記アンテナ(8)を昇降させて当該被測定装置から放射された電波の電界強度を測定するように構成したことを特徴とする雑音測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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