特許
J-GLOBAL ID：200903087520638710
位相差測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 稔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-019044
公開番号（公開出願番号）：特開平11-211765
出願日： 1998年01月30日
公開日（公表日）： 1999年08月06日
要約：
【要約】【課題】 簡単な回路構成で2つの信号の微小な位相差を正確に測定できる位相差測定装置を提供する。【解決手段】 積分動作による出力電圧の変化率が常に一定で、かつ、第1のエッジ検出回路7によりエッジが検出されたときに積分動作を開始し、第2のエッジ検出回路8によりエッジが検出されたときに積分動作を終了する第1の積分回路9と、積分動作による出力電圧の変化率が第1の積分回路9よりも小さく、かつ、第1の積分回路9と同時に積分動作を開始する第2の積分回路10と、第1の積分回路9の出力電圧と第2の積分回路10の出力電圧とを比較し、比較結果に応じた信号を出力する比較回路11とを備えた。
請求項（抜粋）：
2つの周期的な信号の位相差を測定する位相差測定装置であって、前記2つの信号のうちの一方の信号を波形整形する第1の波形整形回路と、前記2つの信号のうちの他方の信号を波形整形する第2の波形整形回路と、積分動作による出力電圧の変化率が常に一定で、かつ、前記第1の波形整形回路の出力の立上がりエッジまたは立下がりエッジに同期して積分動作を開始し、前記第2の波形整形回路の出力の立上がりエッジまたは立下がりエッジに同期して積分動作を終了する第1の積分回路と、積分動作による出力電圧の変化率が前記第1の積分回路よりも小さく、かつ、前記第1の積分回路と同時に積分動作を開始する第2の積分回路と、前記第1の積分回路の出力電圧と前記第2の積分回路の出力電圧とを比較し、比較結果に応じた信号を出力する比較回路とを備えたことを特徴とする、位相差測定装置。
IPC (3件)：
G01R 25/00
, H03K 5/26
, H03L 7/085
G01R 25/00
, H03K 5/26 Z
, H03L 7/08 A
