特許
J-GLOBAL ID：200903087552329892
電磁波透過構造体の評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
西教 圭一郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-267640
公開番号（公開出願番号）：特開2003-078326
出願日： 2001年09月04日
公開日（公表日）： 2003年03月14日
要約：
【要約】【課題】 不均質および複雑形状の構造体の電磁波特性を考慮して、航空機の機体規模での電磁気的な状態の解析を可能にする電磁波透過構造体の評価方法を提供する。【解決手段】 まず電磁波を透過する電磁波透過構造体の内部電界を、三次元体積積分方程式によって算出し、その内部電界に基づいて、電磁波透過構造体の近傍に設定する観測面上の観測点における複素ポインティングベクトルの法線方向成分の時間平均値を算出し、この時間平均値に基づいて、電磁波透過構造体の反射係数および透過係数を算出する。複数の観測点において算出した反射係数および透過係数を平均化して電磁波透過構造体の反射係数および透過係数を求める。
請求項（抜粋）：
電磁波を透過する電磁波透過構造体の内部電界によって、電磁波透過構造体近傍の観測点における複素ポインティングベクトルを算出し、この複素ポインティングベクトルに基づいて、観測点における反射係数および透過係数を算出することを特徴とする電磁波透過構造体の評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (4件)：
5J020BD03
, 5J046AA04
, 5J046AA13
, 5J046RA03
