特許
J-GLOBAL ID：200903087567285077
引張り試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
藤本 博光 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-104530
公開番号（公開出願番号）：特開平6-313751
出願日： 1993年04月30日
公開日（公表日）： 1994年11月08日
要約：
【要約】【目的】 必要回数の引張り試験を行うための複数の引張り試験片を恒温槽内でまとめて予熱し、恒温槽の試験片出入用開口部が、引張り試験が必要回数終了するまでは開閉しないようにして恒温槽から高温度空気が漏れないようにし、所望期間恒温槽が所定の高温状態にあるようにして、1日当たりの試験可能回数を増加することができる引張り試験装置を提供すること。【構成】 ダンベル型試験片7をチャック部24で把持して引っ張る引張り試験部18と、引張り試験部18のチャック部24に対してダンベル型試験片7を供給しかつ試験済みダンベル型試験片7を回収する供給回収部20と、供給回収部20に向けてダンベル型試験片7を搬送しかつ当該搬送途中にダンベル型試験片7の複数を予熱する搬送予熱部22と、これら引張り試験部18、供給回収部20および搬送予熱部22が内部に配置される恒温槽10とを有する。
請求項（抜粋）：
引張り試験用試験片をチャック部で把持して引っ張る引張り試験部と、この引張り試験部の前記チャック部に対して前記試験片を供給しかつ試験済み試験片を回収する供給回収部と、この供給回収部に向けて前記試験片を搬送しかつ当該搬送途中に前記試験片の複数を予熱する搬送予熱部と、これら引張り試験部、供給回収部および搬送予熱部が内部に配置される恒温槽とを有する引張り試験装置。
IPC (4件)：
G01N 3/18
, G01L 1/00
, G01N 3/04
, G01N 1/00 101
