特許

J-GLOBAL ID：200903087578035234

画像検査装置

発明者： 鈴木 芳男 ,  矢倉 正成
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 山口 邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-346424
公開番号（公開出願番号）：特開平5-181125
出願日： 1991年12月27日
公開日（公表日）： 1993年07月23日
要約：

【要約】【目的】画像評価に当り表示素子の輝度むらを最小限にして測定できるようにする。【構成】マトリックス状に配列された複数のセルよりなる表示素子20の輝度分布などの測定に、同じくマトリックス状に配列された複数の画素で構成された撮像素子70で撮像して行なうようにした画像検査装置10において、測定時表示素子20と撮像素子70との間に光学的ローパスフィルタ50と光学系60が配されると共に、光学系60の倍率を変更して分割撮像するようにした。これによって表示素子20のセルピッチと撮像素子70の画像ピッチによって決まる空間周波数に依存したモアレビートを改善できる。

請求項（抜粋）：

マトリックス状に配列された複数のセルよりなる表示素子の輝度分布などの測定に、同じくマトリックス状に配列された複数の画素で構成された撮像素子で撮像して行なうようにした画像検査装置において、測定時、表示素子と撮像素子との間に光学的ローパスフィルタが配されたことを特徴とする画像検査装置。

IPC (2件)：

G02F 1/1335 ,  G09G 3/36

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭61-258570
  
• 特開昭62-188950