特許
J-GLOBAL ID：200903087603560322
複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-156670
公開番号（公開出願番号）：特開平8-329431
出願日： 1995年06月01日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：
【要約】【目的】 バルクハウゼンノイズの捕捉確率をより高めることができる複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置を提供する。【構成】 磁気ヘッドの検査方法として、ヘッドブロック上に配列されたギャップデプス加工後の複数の磁気ヘッドに、これらヘッドの空気ベアリング面に垂直な外部磁界を印加すると共に磁気誘導型素子に高周波電流を流して漏洩磁界を磁気抵抗効果素子に印加し、外部磁界及び漏洩磁界の変化に対する各磁気抵抗効果素子の抵抗変化特性を測定するようにしている。
請求項（抜粋）：
磁気抵抗効果素子及び磁気誘導型素子を有する複合型磁気ヘッドの検査方法であって、ヘッドブロック上に配列されたギャップデプス加工後の複数の磁気ヘッドに、該ヘッドの空気ベアリング面に垂直な外部磁界を印加すると共に前記磁気誘導型素子に高周波電流を流して漏洩磁界を前記磁気抵抗効果素子に印加し、該外部磁界及び漏洩磁界の変化に対する該各磁気抵抗効果素子の抵抗変化特性を測定するようにしたことを特徴とする検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
前のページに戻る
