特許
J-GLOBAL ID:200903087671373972

眼軸長測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西脇 民雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-277922
公開番号(公開出願番号):特開平5-115437
出願日: 1991年10月24日
公開日(公表日): 1993年05月14日
要約:
【要約】【目的】 被検眼が乱視を伴っていても、測定光を眼底に集光させることのできる眼底長測定装置を提供する。【構成】 被検眼の眼軸長を測定する眼軸測定装置であって、前記被検眼角膜の内側にリング虚像を形成させるリング照明光学系101と、被検眼角膜で反射する角膜反射光が入射する角膜測定光学系100と、この角膜測定光学系に入射する角膜反射光から被検眼角膜の曲率半径を演算して乱視強度および乱視軸を求める角膜曲率演算手段300と、補正光学系56に光軸回りに回転可能に設けられ、回転される回転角に応じて補正強度や乱視軸の方向が変わる乱視補正光学系59と、前記角膜曲率演算手段によって演算される乱視強度および乱視軸に基づいて前記乱視補正光学系を回転させて被検眼角膜の乱視を補正する回転手段7,8,301とを備えている。
請求項(抜粋):
被検眼の屈折力に応じて測定光束を補正光学系で補正して前記被検眼に照射し、該被検眼眼底で反射した反射光が入射する測定光学系を備え、該測定光学系に入射した反射光を利用して被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置であって、前記被検眼角膜をリング状に照明するリング照明光学系と、前記被検眼角膜で反射する角膜反射光が入射する角膜測定光学系と、この角膜測定光学系に入射する角膜反射光から被検眼角膜の曲率半径を演算して乱視強度および乱視軸を求める角膜曲率演算手段と、前記補正光学系に光軸に対して移動可能に設けられ、その移動量に応じて補正強度や乱視軸の方向が変わる乱視補正光学系と、前記角膜曲率演算手段によって演算される乱視強度および乱視軸に基づいて前記乱視補正光学系を回転させて被検眼角膜の乱視を補正する回転手段と、を備えていることを特徴とする眼軸長測定装置。

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