特許
J-GLOBAL ID:200903087703545150

障害位置検出システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 絹谷 信雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-149405
公開番号(公開出願番号):特開平9-329415
出願日: 1996年06月11日
公開日(公表日): 1997年12月22日
要約:
【要約】【課題】 障害位置検出分解能が容易に高められ、複数箇所の障害が高精度で検出できる障害位置検出システムを提供する。【解決手段】 長尺の検査対象に沿わせて光ファイバ3を布設すると共に、この光ファイバ3上に上記検査対象の障害を検出するセンサ4を並べ、これらセンサ4が障害を検出したとき上記光ファイバ3に物理的変化を付与するように構成し、この光ファイバ3の一端にこの光ファイバに沿った物理量分布を測定する測定器を接続し、この物理量分布から上記障害の位置を検出する障害位置検出システムにおいて、上記光ファイバ3を上記検査対象に往復させてループ状に布設し、この光ファイバ3の往復いずれの一端からでも障害の位置を検出できるようにした。
請求項(抜粋):
長尺の検査対象に沿わせて光ファイバを布設すると共に、この光ファイバ上に上記検査対象の障害を検出するセンサを並べ、これらセンサが障害を検出したとき上記光ファイバに物理的変化を付与するように構成し、この光ファイバの一端にこの光ファイバに沿った物理量分布を測定する測定器を接続し、この物理量分布から上記障害の位置を検出する障害位置検出システムにおいて、上記光ファイバを上記検査対象に往復させてループ状に布設し、この光ファイバの往復いずれの一端からでも障害の位置を検出できるようにしたことを特徴とする障害位置検出システム。
IPC (4件):
G01B 11/00 ,  G01J 1/02 ,  G01V 9/00 ,  G01V 8/16
FI (4件):
G01B 11/00 A ,  G01J 1/02 M ,  G01V 9/00 F ,  G01V 9/04 F
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開昭54-150160
審査官引用 (1件)
  • 特開昭54-150160

前のページに戻る