スペクトル体積マイクロプローブアレイ

発明者： , , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山本秀策
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-593232
公開番号（公開出願番号）：特表2002-534201
出願日： 2000年01月11日
公開日（公表日）： 2002年10月15日
要約：

【要約】サンプルと電磁放射の相互作用によって、サンプルの材料の特徴を決定するための方法および装置が、提供される。その装置は、光学アセンブリおよび保護バリアーを含む。この光学アセンブリは、第1の光路内の第1の領域から実質的に単調に外れる、サンプル内の強度分布と共に、このサンプル内の複数の体積エレメントを照射し、そして各々の体積エレメントから発する電磁放射を連続的に収集する。この光学アセンブリは、第2光路内の第2領域から実質的に単調に外れる、収集された分布を伴う各々の体積エレメントから発する電磁放射を収集する。第1領域および第2領域は、各々の体積エレメントにおいて少なくとも部分的に重複する。光学アセンブリは、生物学的材料のサンプルの評価に方向付けられるために、プローブとして設定され得る。保護バリアーは、体組織による光学アセンブリの夾雑物を防ぐために、光学アセンブリと体組織との間に配置され得る。

請求項（抜粋）：

材料のサンプルの特徴を決定するための装置であって、該装置は、以下: -該サンプル内の複数の位置に電磁放射を照射する照射光学器を有し;そして照射された該サンプル内の該位置の各々から発される電磁放射を収集する収集光学器を有する、プローブ; -照射されたサンプル内の該位置の各々から発される収集された電磁照射を検出して、該特徴の代表的応答を生成する検出器;および -該プローブに対して外部に配置され、かつ、該サンプルと該プローブとの間に配置されたバリアーであって、ここで該バリアーは該プローブによる照射および該収集光学器による収集を可能にする、バリアー、を含む、装置。

IPC (2件)：

A61B 1/00 300 , G01N 21/64

FI (2件)：

A61B 1/00 300 Z , G01N 21/64 Z

Fターム (21件)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA05 , 2G043EA01 , 2G043FA01 , 2G043GA02 , 2G043GA04 , 2G043GB01 , 2G043GB03 , 2G043GB21 , 2G043HA01 , 2G043HA05 , 2G043HA09 , 2G043HA11 , 2G043JA03 , 2G043KA02 , 2G043KA03 , 2G043LA01 , 2G043LA03 , 4C061GG14 , 4C061WW17

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