特許
J-GLOBAL ID：200903087732438550

3次元寸法計測装置及び3次元寸法計測方法

発明者：
沼田 祥平

沼田 祥平 について

, 
高木 太郎

高木 太郎 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-037581
公開番号（公開出願番号）：特開2003-240527
出願日： 2002年02月15日
公開日（公表日）： 2003年08月27日
要約：
【要約】【課題】本発明の目的は、外部から直接計測できない内部構造を有する計測対象物の3次元寸法を、X線CT撮像装置を利用してボクセル幅以下の分解能で高速に計測できる3次元寸法計測装置及び3次元寸法計測方法を提供することにある。【解決手段】本発明による3次元寸法計測装置は、計測対象物の3次元ビットマップデータを取得するX線CT撮像装置と、前記3次元ビットマップデータに対応する画像を表示する表示装置と、前記画像に計測プローブの走査経路を定義する計測条件定義手段と、前記3次元ビットマップデータ上で前記走査経路に対応する経路に沿って計測プローブを走査して前記計測対象物の寸法を計測する計測手段とを備える。
請求項（抜粋）：
計測対象物の3次元ビットマップデータを取得するX線CT撮像装置と、前記3次元ビットマップデータに対応する画像を表示する表示装置と、前記画像に計測プローブの走査経路を定義する計測条件定義手段と、前記3次元ビットマップデータ上で前記走査経路に対応する経路に沿って計測プローブを走査して前記計測対象物の寸法を計測する計測手段と、を備えることを特徴とする3次元寸法計測装置。
IPC (2件)：
G01B 15/00 ,  G01N 23/04
FI (2件)：
G01B 15/00 A ,  G01N 23/04
Fターム (20件)：
2F067AA04 ,  2F067AA21 ,  2F067AA52 ,  2F067AA67 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK00 ,  2F067KK06 ,  2F067RR35 ,  2F067SS13 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA08 ,  2G001KA05 ,  2G001PA12 ,  2G001PA14
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 寸法測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-035054   出願人：株式会社東芝
  • 画像処理装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-330794   出願人：株式会社東芝
  • ライン・サンプルによるアンチエイリアシング方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-200747   出願人：ミツビシ・エレクトリック・インフォメイション・テクノロジー・センター・アメリカ・インコーポレイテッド

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