特許
J-GLOBAL ID：200903087747396101
不釣合試験機
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-097290
公開番号（公開出願番号）：特開平7-306110
出願日： 1994年05月11日
公開日（公表日）： 1995年11月21日
要約：
【要約】【目的】 複数の供試体の不釣合量および不釣合角度のばらつきを一目で把握できるようにする。【構成】 不釣合試験機に適用され、試験機本体100が供試体の試験を行なっている間は、試験結果である不釣合量と不釣合角度を記憶部に逐次記憶する。試験機本体100による試験が終了した後に操作部材201によってベクトル表示することが指示されると、記憶部に記憶されているデータをレーダチャート上の対応位置にプロット表示する。また、記憶部に記憶されているデータの不釣合量と不釣合角度の平均値を演算し、その平均値に対応するレーダチャート上の位置とレーダチャートの原点とを実線で結び、その先端に矢印をつける。これにより、不釣合量と不釣合角度のばらつきを視覚的に把握できるとともに、不釣合量と不釣合角度の平均値を一目で認識できるようになる。
請求項（抜粋）：
供試体の不釣合を試験する試験機本体と、この試験機本体から出力された試験結果を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶されている試験結果の一部または全部を平均化する平均化手段と、前記平均化された試験結果を表示する表示装置とを具備することを特徴とする不釣合試験機。
IPC (2件)：
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