特許

J-GLOBAL ID：200903087751263051

平面型表示装置の検査方法およびその装置

発明者： 綿村 茂樹 ,  仁木 憲一 ,  横溝 政幸 ,  井上 一樹
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社 ,  旭硝子株式会社
代理人 (1件)： 高田 守 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-319829
公開番号（公開出願番号）：特開平8-178796
出願日： 1994年12月22日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：

【要約】【目的】 輝度測定の回数を増やすことなく、かつ、輝度検出の精度を向上させる検査方法および検査装置を提供する。【構成】 マトリクス状に画素を有するLCD3の表示画面の各画素の表示特性の良否を判定する検査方法であって、前記表示画面の一部の領域の輝度を検出するセンサカメラ4により該一部の領域の各画素の輝度を検出するとともに、該センサを前記マトリクス状の画素の行方向または列方向に振動させ、前記一部の領域の画素と隣接する部分の画素の輝度も検出し、ついで前記一部の領域に隣接する領域を順次走査しながら前記表示画面の画素の輝度検出を同様に繰り返す。

請求項（抜粋）：

マトリクス状に画素を有する平面型表示装置の表示画面の各画素の表示特性の良否を判定する検査方法であって、前記表示画面の一部の領域の輝度を検出するセンサにより該一部の領域の各画素の輝度を検出するとともに、該センサを前記マトリクス状の画素の行方向または列方向に振動させ、前記一部の領域の画素と隣接する部分の画素の輝度も検出し、ついで前記一部の領域に隣接する領域を順次走査しながら前記表示画面の画素の輝度検出を同様に繰り返す平面型表示装置の検査方法。

IPC (4件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G09G 3/20 ,  G09G 3/36