特許
J-GLOBAL ID：200903087754822108
インパルス試験器
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
渡辺 秀治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-157916
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332758
出願日： 1997年05月30日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：
【要約】【課題】 低電圧から高電圧の領域までの広い範囲で安定的なサージ出力を発生させると共に、安定した高電圧、大電流のサージ出力を得ること。また、モニタされるサージ波形の表示位置がずれないようにする。【解決手段】 電圧および電流を制御する制御回路部2と、高圧発生回路部3と、制御回路部2からのタイミングによってサージ出力を発生するサージ発生回路部4とを備え、サージ発生回路部4に、高電圧領域でサージ出力を発生させる高圧スイッチング部と、低電圧領域でサージ出力を発生させる低圧スイッチング部とを設け、両スイッチング部の特性をほぼ同一としている。また、サージ波形をモニタするためのモニタ用トリガ信号を、発生したサージ出力を利用して生成するモニタトリガ用回路部103を設けている。
請求項（抜粋）：
電圧および電流を制御する制御回路部と、高電圧発生回路部と、上記制御回路部からのタイミングによってサージ出力を発生するサージ発生回路部とを備え、上記サージ発生回路部に、高電圧領域で上記サージ出力を発生させる高圧スイッチング部と、低電圧領域で上記サージ出力を発生させる低圧スイッチング部とを設け、両スイッチング部の特性をほぼ同一としたことを特徴とするインパルス試験器。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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