特許

J-GLOBAL ID：200903087811589890

電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体

発明者： 長尾 政彦
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-338174
公開番号（公開出願番号）：特開2000-161929
出願日： 1998年11月27日
公開日（公表日）： 2000年06月16日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむらや捺印文字等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる、電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供する。【解決手段】 撮像手段103と、撮影した画像を複数の単位領域に分割して、各単位領域毎に、撮影した画像の濃淡レベルの分布をそれぞれ求める手段106と、各単位領域内における濃淡レベルの分布中、最多頻度の濃淡レベルから予め設定されたオフセット値を差し引いて、各単位領域における二値化レベルを求める手段107と、撮影した画像の各座標における二値化レベルを、各単位領域における二値化レベルに基づいて補間演算により求める手段108と、撮影した画像の各座標における各濃淡レベルと、求めた二値化レベルとを比較して、欠陥の存在を判定する二値化手段107とを具備する。

請求項（抜粋）：

検査対象物の表面の画像を撮影し、前記撮影した画像を複数の単位領域に分割して、前記各単位領域毎に、前記撮影した画像の濃淡レベルの分布をそれぞれ求め、前記各単位領域内における濃淡レベルの分布中、最多頻度の前記濃淡レベルから予め設定されたオフセット値を差し引いて、前記各単位領域における二値化レベルを求め、前記撮影した画像の各座標における二値化レベルを、前記各単位領域における二値化レベルに基づいて補間演算によりそれぞれ求め、前記撮影した画像の各座標における各濃淡レベルと、前記求めた各座標における二値化レベルとをそれぞれ比較し、前記各濃淡レベルが前記各二値化レベルより小さい座標に欠陥が存在すると判定することを特徴とする電子部品の外観検査方法。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  G06T 7/00

FI (5件)：

G01B 11/24 C ,  G01B 11/24 K ,  G01N 21/88 J ,  G06F 15/62 405 A ,  G06F 15/70 330 N

Fターム (57件)：

2F065AA21 ,  2F065AA49 ,  2F065CC25 ,  2F065DD11 ,  2F065DD13 ,  2F065FF04 ,  2F065GG17 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ01 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS13 ,  2G051AA61 ,  2G051AB07 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA02 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED07 ,  2G051FA10 ,  5B057AA01 ,  5B057BA30 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB08 ,  5B057DC02 ,  5B057DC04 ,  5B057DC14 ,  5B057DC23 ,  5L096BA03 ,  5L096EA43 ,  5L096FA14 ,  5L096FA37 ,  5L096FA59 ,  5L096FA64 ,  5L096GA19 ,  5L096GA51 ,  9A001BB06 ,  9A001EE05 ,  9A001GZ01 ,  9A001HH23 ,  9A001JJ45 ,  9A001KK16 ,  9A001LL09