特許
J-GLOBAL ID：200903087819166483
光パルス診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-040007
公開番号（公開出願番号）：特開平11-237285
出願日： 1998年02月23日
公開日（公表日）： 1999年08月31日
要約：
【要約】【課題】 位相整合条件を満足する非線型結晶が見当たらない400 nm以下の波長域でも測定が可能な光パルス診断装置を提供すること。【解決手段】 入射光パルス12はハーフミラー201により2本のビームに分離される。片方のビームは、コーナー反射ミラー211・凹面鏡203を経由して非線型結晶221に焦点を結ぶ。もう一方のビームも、コーナー反射ミラー212・ミラー202・凹面鏡203を経由して非線型結晶221に焦点を結ぶ。非線型結晶221で反射した2つのビームの中線方向には第2高調波102が放出される。第2高調波102はアパーチャ222を通過し、レンズ223で収束され、分光器231では波長分解され、多チャネル検出素子232で検出される。
請求項（抜粋）：
入射光を2本のビームに分離する手段、分離された入射光のビームの少なくとも一方の光路長を調整し変化させる手段、分離された2本の入射光を非線型結晶上の所定の位置に焦点を結ぶ手段、該非線型結晶の表面から発生する第2高調波を分光した後検出する手段、検出された分光データを解析する手段を有することを特徴とする光パルス診断装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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