特許

J-GLOBAL ID：200903087827784706

細線画像整形方法

発明者： 湯川 典昭
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-144400
公開番号（公開出願番号）：特開平5-334432
出願日： 1992年06月04日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 単純な処理で、高速で、高精度で、高信頼性の細線画像整形方法の提供。【構成】 乱れた被整形細線画像を整形する方法で、細線検索工程#2で、追跡するべき細線を検索し、クラスタ追跡工程#3で、細線の画素の配列方向を任意の方向コードで追跡し、分岐点があれば、分岐点前の任意の複数の方向コードの平均値に近い方向を選択して終点まで追跡し、細線(クラスタ)の画像を被整形細線画像から消去し、クラスタの画像データを別の整形細線画像に移転し、これら2つの工程を繰り返して、全ての細線を追跡し、得られたクラスタの画像データから整形細線画像を完成し、被接続細線検索工程#4で、端点が接近して向かい合っている2本の細線を検索し、細線接続工程#5で、合っている2本の細線の端点の位置データと端点近傍の形状データとを演算し、所定閾値以下の場合に、2本の細線を接続し、これら2つの工程を繰り返して、再整形細線画像を完成する。

請求項（抜粋）：

本来別の線が長くつながったり分岐形態でつながったり、本来連続するべき線が分断していたり、ヒゲを有したり、ノイズ状に短かったりするような細線が混在する乱れた被整形細線画像を整形する細線画像整形方法において、細線検索工程で、被整形細線画像を走査して、追跡するべき細線を検索し、クラスタ追跡工程で、前記の検索された細線を構成する画素の配列方向を任意の方向コードによって追跡し、分岐点があれば、分岐点前の任意の複数の方向コードの平均値により近い方向を選択して終点まで追跡し、終点まで追跡した細線をクラスタと称してそのクラスタの画像を被整形細線画像から消去すると共に、このクラスタの画像データを別の整形細線画像に移転し、これら2つの工程を繰り返して、全ての細線を追跡し、そのクラスタの画像を前記被整形細線画像から消去し、得られたクラスタの画像データを前記整形細線画像に移転して整形細線画像を完成することを特徴とする細線画像整形方法。

IPC (2件)：

G06F 15/66 415 ,  G06F 15/60 400

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-208178
  
• 特開昭61-208183
  
• 特開昭60-142483