円形状パターン計測・位置認識装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小鍜治明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-003948
公開番号（公開出願番号）：特開平7-210654
出願日： 1994年01月19日
公開日（公表日）： 1995年08月11日
要約：

【要約】【目的】円の式を精度よく算出する、高精度円形状パターン計測・位置認識装置を実現することを目的とする。【構成】円形状の境界点を複数検出するエッジ点検出手段10と、該検出した複数のエッジ点から円の近似式を算出する近似式算出手段11と、該算出された近似式による円の中心から所定の範囲内で基準点を設ける基準点移動設定手段12と、該各々の基準点から円のエッジ点までの距離を算出し、距離と度数のヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段13と、該各々のヒストグラムにおける最頻度数のうち最も高い最頻度数を検出する最頻度数算出手段14と、該検出した最頻度距離を基準に所定範囲外の距離のエッジ点をノイズとして除去するノイズ除去手段16と、ノイズ除去した残りのエッジ点から再度円の近似式を算出する円の式算出手段15を備えることにより、精度よく円形状パターンの計測・位置認識ができる。

請求項（抜粋）：

円形部品やネジ穴の形状、位置認識を画像処理を用いて行う装置において、対象物の形状に合わせて処理エリアを設定する処理エリア設定手段と、該処理エリア内において円形状の境界点を複数検出するエッジ点検出手段と、該検出した複数のエッジ点から円の近似式を算出する近似似式算出手段と、該算出された近似式による円の中心から所定の範囲内で基準点を設ける基準点移動設定手段と、該各々の基準点から円のエッジ点までの距離を算出し、距離と度数のヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、該各々のヒストグラムにおける最頻度数のうち最も最頻度数の高い最頻度数を検出する最頻度数算出手段と、該最も高い最頻度数をもつヒストグラムを構成した基準点を改めて円の中心とし、また、そのときの最頻度距離を半径とする円の式を算出する円の式算出手段とを備えること特徴とした円形状パターン計測・位置認識装置。

IPC (5件)：

G06T 1/00 , G01B 11/00 , G01B 11/08 , G01B 11/24 , G06T 7/60

FI (2件)：

G06F 15/64 400 , G06F 15/70 360

引用特許：

出願人引用 (3件)

特開昭56-121172
特開昭56-155804
特開昭63-170783

前のページに戻る