特許
J-GLOBAL ID：200903087946645447
液晶表示装置の検査方法および検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-144906
公開番号（公開出願番号）：特開平5-313134
出願日： 1992年05月11日
公開日（公表日）： 1993年11月26日
要約：
【要約】【目的】 従来では検出が困難であった輝度レベルが低くなるような程度の欠陥をも容易に検出することができる検査方法および検査装置を提供すること。【構成】 マトリクス状に配列されたデータ線4および走査線2の交点に配置された駆動トランジスタ6および画素電極24を有する一方の駆動基板20と、対向電極30を有し前記一方の駆動基板20に対向配置された他方の対向基板22と、両方の基板間に保持された液晶層10とを備えた液晶表示装置の欠陥検査方法において、前記対向電極30の共通電位Vcom を、前記データ線4の画像信号の中心電位(通常駆動電位)に対して上方側又は下方側にずらした値に設定して前記液晶表示装置を駆動し、画素の欠陥を検出する。
請求項（抜粋）：
マトリクス状に配列されたデータ線および走査線の交点に配置された駆動トランジスタおよび画素電極を有する一方の基板と、対向電極を有し前記一方の基板に対向配置された他方の基板と、両方の基板間に保持された液晶層とを備えた液晶表示装置の欠陥検査方法において、前記対向電極の電位を、前記データ線の画像信号の中心電位と異なる値に設定して前記液晶表示装置を駆動し、画素の欠陥を検出することを特徴とする液晶表示装置の欠陥検査方法。
IPC (3件)：
G02F 1/133 550
, G02F 1/133 505
, G09G 3/36
