特許

J-GLOBAL ID：200903087963663742

X線透過検査方法及びその装置

発明者： 間瀬 精士
出願人/特許権者： 株式会社ソディック ,  株式会社マック・サイエンス
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-214854
公開番号（公開出願番号）：特開2000-028553
出願日： 1998年07月14日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：

【要約】【課題】プラスチックの射出成形品から成るコネクタ用の絶縁体機能部品の検査にX線透過による非破壊検査法を適用しようとしても、そのX線透過像は、境界が不鮮明でかつ全体としてもぼけたもので、検査が出来なかった。【解決手段】被験体にX線を照射して得た透過像の画像データをデジタル化し、その表示を見て判別するX線透過検査方法に於いて、前記透過像にエッジ強調の画像処理をしたエッジ強調像を得、そして該エッジ強調像の画像データと前記透過像の画像データとを差動演算することにより検査選別用の判別像の画像データを得て判別像を表示させるようにした。

請求項（抜粋）：

被験体にX線を照射してX線透過像を得、該透過像の画像データをデジタル化して表示用又は印刷用の画像データを得るX線透過検査方法に於いて、前記透過像にエッジ強調の画像処理をしたエッジ強調像を得、そして該エッジ強調像の画像データと前記透過像の画像データとを差動演算することにより検査選別用の判別像の画像データを得、前記表示用又は印刷用の判別像を出力し得るようにしたことを特徴とするX線透過検査方法。

IPC (3件)：

G01N 23/18 ,  G01N 23/04 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01N 23/18 ,  G01N 23/04 ,  G06F 15/62 405 A

Fターム (24件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA06 ,  2G001FA08 ,  2G001GA06 ,  2G001GA07 ,  2G001HA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001JA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA05 ,  2G001LA11 ,  2G001PA01 ,  5B057AA01 ,  5B057BA03 ,  5B057CE03 ,  5B057CH11 ,  5B057DA12 ,  5B057DC32