特許

J-GLOBAL ID：200903087997948371

表面欠陥検出方法および探傷装置

発明者： 橋本 達也 ,  飯塚 幸理
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-171150
公開番号（公開出願番号）：特開2001-004599
出願日： 1999年06月17日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：

【要約】【課題】 探触子を小型化することなく、超音波ビームの幅より小さい表面欠陥を過小評価することなく検出できる、表面欠陥の検出方法を提供する。【解決手段】 送信用探触子4からの送信波に複数の周波数成分を含む表面波は、受信用探触子5にて受信され、振動は電気信号に変換されて受信器6に送られ、スペクトラムアナライザ7でフーリエ変換されて演算器8に送られる。演算器8は、超音波の透過率の周波数分布を測定し、測定された透過率の周波数分布を、超音波の幅に対して十分大きな大きさを持つ欠陥の深さに応じて減衰した透過波の透過率の周波数分布を表す式と、健全面を透過する透過波の透過率の周波数分布を表す式との、互いの係数(未定係数)の和が定数となる線形結合として回帰計算し、回帰計算の結果より欠陥の深さと大きさを測定する。

請求項（抜粋）：

被検査体の表面に存在する欠陥の大きさ(長さ)と深さを、超音波の表面波を用いて透過法で検出する表面欠陥検出方法であって、送信波に複数の周波数成分を含む波形を用いて探傷し、超音波の透過率の周波数分布を測定し、測定された透過率の周波数分布を、超音波の幅に対して十分大きな大きさを持つ欠陥の深さに応じて減衰した透過波の透過率の周波数分布を表す式と、健全面を透過する透過波の透過率の周波数分布を表す式との、互いの係数(未定係数)の和が定数となる線形結合として回帰計算し、回帰計算の結果より欠陥の深さと大きさを測定することを特徴とする表面欠陥検出方法。

Fターム (9件)：

2G047BA01 ,  2G047BC03 ,  2G047BC04 ,  2G047BC08 ,  2G047BC10 ,  2G047CB03 ,  2G047EA09 ,  2G047GB02 ,  2G047GG37