特許
J-GLOBAL ID:200903088071584046

超音波探傷方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-168514
公開番号(公開出願番号):特開2001-343370
出願日: 2000年06月06日
公開日(公表日): 2001年12月14日
要約:
【要約】【課題】 金属溶接部や鋳造材などの結晶構造が粗い探傷対象材に対しても確実に探傷を行うことができる超音波探傷方法を提供する。【解決手段】 試験片に対し、超音波の入射角を変えて探傷することにより入射角依存性データを求めて、この入射角依存性データからデータ重み付け関数を求め、また、周波数帯域を有する超音波を発信して探傷することなどにより周波数依存性データを求め、この周波数依存性データからデータ重み付け関数を求める。そして、実際の探傷対象材に対して超音波の入射角を変えて探傷し、また、周波数帯域を有する超音波で探傷して得た実際の探傷データを前記データ重み付け関数で重み付けをすることにより、SN比を向上させて欠陥を検出する。また、フェーズドアレイ法を用いて入射角を変え、コンポジット型振動子を備えた探触子を用いて周波数帯域を広くする。
請求項(抜粋):
実際の探傷対象材と同じ材質の試験片に対し、探触子から発信する超音波の入射角を変えて探傷することにより、欠陥信号とノイズ信号の入射角依存性データを求め、この入射角依存性データからデータ重み付け関数を求めること、実際の探傷対象材に対して探触子から発信する超音波の入射角を変えて探傷し、この実際の探傷データに対して前記データ重み付け関数により重み付けをすることにより、探傷データのSN比を向上させて欠陥を検出することを特徴とする超音波探傷方法。
IPC (2件):
G01N 29/22 507 ,  G01N 29/22 501
FI (2件):
G01N 29/22 507 ,  G01N 29/22 501
Fターム (13件):
2G047AA07 ,  2G047AB07 ,  2G047BB02 ,  2G047BC04 ,  2G047BC07 ,  2G047BC14 ,  2G047CA01 ,  2G047EA10 ,  2G047GB02 ,  2G047GF11 ,  2G047GG12 ,  2G047GG36 ,  2G047GJ22

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