特許

J-GLOBAL ID：200903088096797699

材料試験機

発明者： 松原 輝次 ,  垣尾 尚史
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-023435
公開番号（公開出願番号）：特開平11-223593
出願日： 1998年02月04日
公開日（公表日）： 1999年08月17日
要約：

【要約】【課題】動電形アクチュエータで試験片を負荷する場合、制御変位や制御荷重が小さくても安定した変位フィードバック制御や荷重フィードバック制御を行う。【解決手段】動電形アクチュエータ2は入力される駆動信号iに対して推力Fを発生する。変位センサ31で検出した試験片の変位と目標変位との偏差だけでフィードバック制御する場合、フィードバック系は共振系となり、微小変位での試験が精度よくできない。そこで変位センサ31で検出した試験片の変位をメージャーループとし、速度センサ32で検出した試験片の変形速度をマイナーループとしてフィードバック制御する。このフィードバック系は安定な系となり、ダイナミック特性が改善される。

請求項（抜粋）：

試験片を負荷する動電形アクチュエータと、前記試験片を目標値で負荷するための目標信号を与える目標信号発生回路と、前記試験片の変位もしくは荷重を検出する検出センサと、前記検出センサで検出した変位もしくは荷重と前記目標信号との偏差によって前記動電形アクチュエータをフィードバック制御するフィードバック制御回路とを備えた材料試験機において、前記試験片の変形速度に応じた速度信号を発生する速度信号発生回路を備え、前記フィードバック制御回路は、前記変位もしくは荷重の検出信号をメージャーループとして、前記速度信号発生回路から発生する速度信号をマイナーループとしてフィードバックすることを特徴とする材料試験機。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-044146
  
• 特開昭63-163255