特許
J-GLOBAL ID：200903088236918254
電子回路基板における布線検査装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
内原 晋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-265803
公開番号（公開出願番号）：特開平5-107296
出願日： 1991年10月15日
公開日（公表日）： 1993年04月27日
要約：
【要約】【目的】検査治具12及び15aと介してピンボードユニット12及び13aのそれぞれをPWB1の表裏面にある回路パターンを正確に位置合せし、確実な良否判定を行なう。【構成】表裏面に回路パターンが形成されたPWB1の回路の導通、絶縁、短絡及び断線の有無を検査する布線検査装置において、PWB1の表裏面に形成された回路パターン及び位置マークを完全に露呈させて掴み保持し、かつ引張り力を与えて歪みを矯正するクランプ11a〜11dと、PWB1の表裏面を撮像するCCDカメラ19a〜19dとを備え、歪みの無いPWB1の位置マークとピンボードユニット12、13aの検査治具14、15aとの位置ずれを測定し、検査治具14、15aを相対的に微動することにより位置ずれを補正し、ピンボードユニット12、13aとPWB1とを位置合せすることによって、正確な信号の授受を行う。
請求項（抜粋）：
表裏面に回路パターンが形成される電気回路基板を検査する電気回路基板における布線検査装置において、表裏面に形成された回路パターン及び位置マークを完全に露呈させて掴み保持し、かつ引張り力を与えて歪みを矯正する保持手段と、前記電子回路基板を位置マークが形成される検査治具を介して挟み接触して信号授受を行なうピンボードユニットと、前記電子回路基板の表裏面を撮像する撮像手段と、この撮像手段の画像信号を処理して前記検査治具の位置マークと前記電子回路基板のそれぞれの位置マークとのずれ量を算出する画像処理部と、この画像処理部の算出されるずれ量に前記検査治具を相対的に微動させ、前記ずれ量を補正する位置決め駆動部とを備えることを特徴とする電子回路基板における布線検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, G06F 15/62 405
, H05K 3/00
