特許
J-GLOBAL ID:200903088255201743

物体の寸法、形状の計測方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 櫻井 俊彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-043159
公開番号(公開出願番号):特開平7-229723
出願日: 1994年02月17日
公開日(公表日): 1995年08月29日
要約:
【要約】〔目的〕 高価な付帯設備を必要とせず、高い精度でしかも撮像時間が短い、物体の形状、寸法の計測方法及び装置を提供する。〔構成〕 縞の次数が識別可能なように縞の太さに特徴をつけた明暗の縞パターンを投影装置(1) から被計測物体(5) に投影し、この被計測物体に投影された縞パターンを撮像装置(2) で撮像し、この撮像された縞パターンから縞の次数を識別しながらこの被計測物体の各部のさ3次元座標を計算し、この計算された3 次元座標から各輪郭面(10a〜10d)を作成し、相互の幾何学的関係から被計測物体(5) の寸法を計測する。被計測物体(5) は、少なくとも撮像装置(2) の視野程度の範囲にわたって長さ方向にほぼ同一の断面を有すると共にほぼ直線状を呈する。撮像装置(2) は、その光軸が被計測物体(5) の長さ方向とほぼ垂直となるようにかつそのレンズ中心と投影装置(1) のレンズ中心とを結ぶ直線が被計測物体(5)の長さ方向とほぼ平行になるように配置される。
請求項(抜粋):
被計測物体に縞の次数が識別可能なように縞の太さに特徴をつけた明暗の縞パターンを投影装置から投影し、前記被計測物体に投影された縞パターンを撮像装置で撮像し、この撮像された縞パターンから縞の次数を識別し、それぞれの次数の縞の画像面内の位置から前記被計測物体の各部の3次元座標を計算することによりこの被計測物体の形状を計測する物体の形状の計測方法であって、前記被計測物体は、少なくとも前記撮像装置の視野程度の範囲にわたって長さ方向にほぼ同一の断面形状を有すると共にほぼ直線状であり、前記撮像装置は、その光軸が前記被計測物体の長さ方向とほぼ垂直となるようにかつそのレンズ中心と前記投影装置のレンズ中心とを結ぶ直線が前記被計測物体の長さ方向とほぼ平行になるように配置されたことを特徴とする物体の形状の測定方法。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  G01B 11/00
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開昭63-231203
  • 特開昭53-068267
  • 特開平1-299406
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