特許
J-GLOBAL ID：200903088298146282
光ディスク装置および試し書き方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
朝比 一夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-361813
公開番号（公開出願番号）：特開平11-175977
出願日： 1997年12月10日
公開日（公表日）： 1999年07月02日
要約：
【要約】【課題】テストエリアに試し書きをする際に、二重書き(オーバーライト)を未然に防ぐことができる。【解決手段】OPCにおいて、テストエリアへの試し書き回数(カウント数)は、カウントエリアの記録(書き込みフレーム数)のみから判断するのではなく、実際にテストエリアに書き込まれているEFM信号を検出することにより、テストエリアにおける書き込み予定箇所が未記録であるか否かを判断し(ステップ104)、当該書き込み予定箇所の全てが未記録であることを判断してから、その箇所へ試し書きを行う。なお、書き込み予定箇所は、カウントエリアのカウント数より求めることができる(ステップ103)。また、カウントエリアのカウント数が誤っている場合には、その修正を行う(ステップ106、115)。
請求項（抜粋）：
試し書きを行うテストエリアを有する光ディスクに対し記録または記録・再生する光ディスク装置であって、光ディスクを回転駆動するモータと、少なくとも光ディスクの半径方向に移動可能であり、光ディスクにレーザ光を照射して情報を書き込むことができる光学ヘッドと、前記光学ヘッドの作動を制御する制御手段とを有し、前記レーザ光の出力を決定するための試し書きをするに際し、前記テストエリアの書き込み予定箇所が記録済か否かを検出して、未記録箇所にのみ試し書きを行うよう構成したことを特徴とする光ディスク装置。
引用特許：
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