特許
J-GLOBAL ID:200903088300479340

マーク認識方法及び位置合わせ装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石原 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-330756
公開番号(公開出願番号):特開2001-148600
出願日: 1999年11月22日
公開日(公表日): 2001年05月29日
要約:
【要約】【課題】 基準マーク上に不透明ないし半透明体が設けられている場合でも基準マークを認識できるマーク認識方法及び位置合わせ装置を提供する。【解決手段】 上部に樹脂接着剤5等の不透明ないし半透明体を配置された位置決め用の基準マーク6に対して赤外線を照射する赤外線照射手段2と、基準マーク6を画像認識する赤外線カメラ1と、認識結果によって基板と部品の位置合わせを行う位置決めテーブル8とを備え、基準マーク6に赤外線を照射し、赤外線カメラ1にて不透明ないし半透明体を透過して基準マーク6を認識し、その位置を高精度に認識し、基板7と部品を位置合わせするようにした。
請求項(抜粋):
上部に樹脂等の不透明ないし半透明体が設けられた基板や部品における位置決め用の基準マークを認識する際に、樹脂等の不透明ないし半透明体を透過して基準マークに赤外線を照射し、赤外線カメラにてマーク認識を行うことを特徴とするマーク認識方法。
IPC (2件):
H05K 13/04 ,  H05K 13/08
FI (2件):
H05K 13/04 M ,  H05K 13/08 Q
Fターム (3件):
5E313EE03 ,  5E313FF09 ,  5E313FF32

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